К вопросу динамического подпорогового дефектообразования в вузькозоннихнапівпровідниках АIIIВV
Страница: [1] [2] [3]
0 0,25 0,5 0,75
х, мкм
nS, см-2
= 0, 1 Дж (см-2
1
2
0,25
10-2 10-1 100
I0, Дж (cм-2
Рис 3. Динамика поведения дефектов в InSb после облученияимпульсами рубинового лазера: (- 2-4 часа после облучения; (- 48 часов после облучения; (- неделю после облучения; — две недели после облучения индия в кубической модификации прямозонни
{111}
{110}
1
Рис 4. Двухмерное изображение кристаллической решетки кристалла А3В5 (в том числе и антимонида индия) кубическоймодификации (сфалерит). Связь 1 соответствует чистому ковалентной
Страница: [1] [2] [3]
версия для печати
Читайте также:
— Политические партии: сущность, функции, типология
— Польская языковая ситуация в поселке Микулинцы и селе Лучка Тернопольского района Тернопольской области
— Фашизм и украинский национализм
— Западно-Украинская пресса времен второй мировой войны
— Иуда Искариот
|